本實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)可在納/微米尺度上連續(xù)記錄作用在樣品上的載荷和壓入樣品表面的深度，獲得被壓材料的硬度和模量。主要用于巖土體材料的納米壓痕、納米劃痕、摩擦磨損、原位成像、動(dòng)態(tài)力學(xué)性能等納米特性測(cè)試，獲得相關(guān)條件下的硬度、模量、蠕變等功能。

二、技術(shù)指標(biāo)

1、納米壓痕測(cè)試：

1.1最大載荷：≥10mN；載荷力分辨率：≤1nN；最大位移：≥5 m

1.2最小載荷：≤70nN，載荷噪音背景：≤20nN

1.3位移噪音背景：≤0.2nm，位移分辨率：≤0.006nm

2、高解析原位掃描探針成像（SPM）

2.1掃描頻率：0.01Hz～3.0Hz

2.2掃描分辨率：4096 4096像素點(diǎn)

2.3掃描探針原位的位置控制精度： 10nm

3、納米劃痕測(cè)試：最大橫向載荷力：2mN；橫向載荷分辨率：≤50nN