| 一、設(shè)備介紹
本實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)用于研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過(guò)檢測(cè)待測(cè)樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來(lái)研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。
二、技術(shù)指標(biāo)
1、高分辨掃描器：XY方向掃描范圍≥90 m，Z方向掃描范圍≥10 m
2、光學(xué)系統(tǒng)：彩色CCD像素≥500萬(wàn)，放大倍數(shù)：285 ~ 1285 倍放大
3、包含三個(gè)全數(shù)字鎖相放大器，控制器反饋?lái)憫?yīng)時(shí)間≤2 s，數(shù)據(jù)采樣速率≥50MHz
4、馬達(dá)控制全自動(dòng)樣品臺(tái)：直徑≥200mm，樣品高度≥10mm
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鄂公網(wǎng)安備 42010602003514 
